| Registros del 1 al 4 de 4 encontrados |
1.- Estudio mineralogico por difracción de rayos X de 57 muestras arcillosas
Empresa Nacional del Uranio (ENUSA)
Madrid: Empresa Nacional Adaro de Investigaciones Mineras, 1982
Peñarroya M/2-8.36
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2.- Korngrossenabhangigkeit von K-Ar Datierungen und Illit-Kristallinitat anchizonaler Metapelite und assoziierter Metatuffe aus dem ostlichen Rheinischen Schiefergebirge
Reuter, Antje
Gottingen: Geologische Institute, Georg-August-Universitat Gottingen, 1985
Gottinger arbeiten zur Geologie und Palaontologie
Revistas
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3.- UNE-EN 1330-11: ensayos no destructivos: terminología. Parte 11: términos utilizados en la difracción de rayos X en materiales policristalinos y amorfos
Comité Técnico AEN/CTN 130 Ensayos no destructivos
Madrid: AENOR, 2008
R/18-4-...
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4.- UNE-EN 13925: ensayos no destructivos:difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos
Comité Técnico AEN/CTN 130 Ensayos no destructivos
Madrid: AENOR, 2004-2006
R/18-4-...
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