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Título:UNE-EN 13925: ensayos no destructivos:difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos
Autor:Comité Técnico AEN/CTN 130 Ensayos no destructivos
Publicación:Madrid: AENOR, 2004-2006
Descripción Física:3 v.; figs., tbs.; 30 cm
Descriptor:normalización
difracción rayos X
materia amorfa
cristalinidad
instrumentación
metodología análisis
CDU:0.891:006
Notas:Contiene: Parte 1: principios generales (17 p.); Parte 2: procedimientos (25 p.); Parte 3: instrumentos (45 p.). Esta norma es la version oficial en español de la Norma Europea EN 13925-1 (de 2003), EN 13925-2 (de 2003), y EN 13925-3 (de 2005)
Signatura:R/18-4-...
Localización:IGME - Biblioteca
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