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Título:CRECIMIENTO EPITAXIAL DE YESO SOBRE ANHIDRITA: ESTUDIO IN SITU MEDIANTE MICROSCOPIA DE FUERZA ATOMICA (AFM)
Autor/es:BECKER, U.
FERNANDEZ DIAZ, L.
PINA, C.M.
Edición: 2000
Título Revista:CUADERNOS DO LABORATORIO XEOLOXICO DE LAXE
Número:25
Paginas:31-33
ISSN:0213-4497
Descriptor:yeso
microscopía
microscopía
dato mineral
crecimiento cristalino
anhidrita
in situ
in situ
epitaxia
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